光耦參數(shù)測試儀詳細介紹
※概述:
是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數(shù)設置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,電子產品或電子元件供應商來料檢測。

產品型號：JFY3010A

更新時間：2024-02-04

廠商性質：生產廠家

訪問量：1864

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電力通信設備

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品牌	其他品牌	產地類別	國產
應用領域	綜合	壓降	0-2.000V

光耦參數(shù)測試儀型號：JFY3010A

光耦參數(shù)測試儀

詳細介紹
※概述:
是一種**門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數(shù)設置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數(shù):

是一種**門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數(shù)設置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數(shù):

參數(shù)指標表:

參數(shù)項	測試參數(shù)	測試條件設置

輸入正向壓降(VF)	0-2.000V	0-400MA
耐壓(BVCEO)	0-1200V	0-2.000MA
傳輸比(CTR)	0-3000	VCE:0-20V IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)	0-2.000V	IF:0-400MA IC:0-2.00A
輸出漏電流(Iceo)	0-1mA	VCE=20V
輸入反向漏電流(IR)	0-1mA	VR=4V